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          軟錯誤 文章 最新資訊

          軟錯誤是如何損壞重要信息的?

          • 軟錯誤是指高能粒子與硅元素之間的相互作用而在半導(dǎo)體中造成的隨機、臨時的狀態(tài)改變或瞬變。隨著SRAM工藝的性能日益提高,越來越低的電壓和節(jié)點電容使得SRAM器件更易出現(xiàn)軟錯誤。軟錯誤不僅會損壞數(shù)據(jù),而且還有可能
          • 關(guān)鍵字: 軟錯誤  MPU  

          一種FPGA單粒子軟錯誤檢測電路設(shè)計

          • 摘要:分析了FPGA器件發(fā)生單粒子效應(yīng)的空間分布特性,設(shè)計并實現(xiàn)了一種面向FPGA單粒子軟錯誤的檢測電路。將該電路放置在FPCA待檢測電路的附近,利
          • 關(guān)鍵字: FPGA  空間分布特性  單粒子效應(yīng)  軟錯誤  檢測電路  
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          軟錯誤介紹

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