自動測試設備 文章 最新資訊
自動測試設備應用中PhotoMOS開關的替代方案
- 問題人工智能(AI)應用對高性能內(nèi)存，特別是高帶寬內(nèi)存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導致自動測試設備(ATE)廠商的設計變得更加復雜？回答AI需要高密度和高帶寬來高效處理數(shù)據(jù)，因此HBM至關重要。ATE廠商及其開發(fā)的系統(tǒng)需要跟上先進內(nèi)存接口測試的發(fā)展步伐。ADI公司的CMOS開關非常適合ATE廠商的內(nèi)存晶圓探針電源測試。這些CMOS開關擁有快速導通和可擴展性等特性，能夠提升測試并行處理能力，從而更全面、更快速地測試內(nèi)存芯片。簡介隨著AI應用對高性能內(nèi)存，尤其是高帶寬內(nèi)存(HBM)的需求不斷增長，內(nèi)存芯
- 關鍵字： 自動測試設備 PhotoMOS ADI
Test Advantage 收購Microstats
- ?? Boston Semi Equipment Group（BSE 集團）旗下公司 Test Advantage 宣布已經(jīng)收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產(chǎn)品、解決方案和共同的客戶群，以增強 Test Advantage 在后端半導體市場的產(chǎn)品和服務。 ???
- 關鍵字： Test Advantage Microstats 自動測試設備
BSE集團收購Test Advantage Hardware進軍ATE資本設備
- 為了向半導體行業(yè)提供融合了設備專長與創(chuàng)新金融解決方案的獨特組合，業(yè)內(nèi)資深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布創(chuàng)辦 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集團)。BSE 集團由私人集資，其目標是在半導體設備行業(yè)設定新的基準，將創(chuàng)新金融解決方案與經(jīng)驗、專長和基礎設施結(jié)合起來，以支持全新和二手半導體生產(chǎn)設備的租賃、銷售、訂制改造和服務。 傳統(tǒng)的資本設備融資解決方案過去一直無法支持
- 關鍵字： 半導體設備 自動測試設備
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