老化測試 文章 最新資訊
新型功率器件的老化特性：HTOL高溫工況老化測試
- _____隨著技術(shù)的不斷進步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優(yōu)異的性能被廣泛應用于各種電子設備中。然而，這些器件在長期連續(xù)使用后會出現(xiàn)老化現(xiàn)象，導致性能退化。如何在短時間內(nèi)準確評估這些器件的老化特性，成為行業(yè)關(guān)注的焦點。目前，針對功率器件的老化測試主要包括多種不同的測試方式。其中，JEDEC制定的老化測試標準（如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環(huán)測試）主要針對傳統(tǒng)的硅基功率器件。對于新型的SiC等功率器件，AQG-324標準進一步要求增加動態(tài)老化測試，如動態(tài)柵偏和動態(tài)反偏測試。
- 關(guān)鍵字： 功率器件 老化特性 HTOL 高溫工況 老化測試
儀器儀表老化測試及其環(huán)境試驗方法
- 導讀:工業(yè)使用的儀器，使用一定時期后，將滿足產(chǎn)品老化，老化的試驗和環(huán)境試驗，它可以檢測早期文書的一個潛在故障...
- 關(guān)鍵字： 儀器儀表 老化測試 環(huán)境試驗
LED照明產(chǎn)品的老化測試方案
- 摘要：本文詳細介紹了一種LED照明產(chǎn)品長時間通電老化試驗的方案。主要說明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品，和主要的監(jiān)控軟件，實現(xiàn)最大程度的發(fā)揮電源在老化系統(tǒng)中的作用，提高多個LED 產(chǎn)品老化測試的同時性和自動化性，
- 關(guān)鍵字： LED 照明產(chǎn)品 老化測試 方案
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老化測試介紹
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