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磁記憶檢測(cè)原理與漏磁之間的關(guān)系

本文采用PIC單片機(jī)，設(shè)計(jì)了高性價(jià)比的便攜式磁記憶檢測(cè)儀，具有低成本、低功耗和快速檢測(cè)等特點(diǎn)，可以滿足各種場(chǎng)合，特別是難以到達(dá)部位的應(yīng)力集中區(qū)檢測(cè)。
關(guān)鍵字： PIC 單片機(jī) 便攜式磁記憶

　　引言　　金屬構(gòu)件和零部件發(fā)生損壞的主要原因，是各種微觀和宏觀機(jī)械應(yīng)力集中導(dǎo)致疲勞失效，其基本特征表現(xiàn)為材料在低于靜強(qiáng)度極限的交變應(yīng)力持續(xù)作用下，生成多種類型的微觀內(nèi)部缺陷，并逐漸演化為宏觀裂紋，裂紋擴(kuò)展最終導(dǎo)致結(jié)構(gòu)破壞。因此，進(jìn)行疲勞分析，有效評(píng)價(jià)應(yīng)力變形狀況，測(cè)定未來(lái)裂縫發(fā)展的位置、大小和方向，成為評(píng)價(jià)金屬零部件與構(gòu)件結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和可靠性的一個(gè)重要依據(jù)。為了及時(shí)準(zhǔn)確的找出最大機(jī)械應(yīng)力變形區(qū)域，20世紀(jì)90年代后期，以杜波夫?yàn)榇淼亩砹_斯學(xué)者率先提出一種嶄新的診斷技術(shù)—金屬磁記憶檢測(cè)。本文
關(guān)鍵字： PIC 單片機(jī) 磁記憶檢測(cè)儀

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