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白盒測(cè)試
白盒測(cè)試 文章 最新資訊
嵌入式實(shí)時(shí)系統(tǒng)軟件測(cè)試的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： 軟件測(cè)試 白盒測(cè)試 嵌入式系統(tǒng) 覆蓋測(cè)試
嵌入式軟件設(shè)計(jì)中查找缺陷的幾個(gè)技巧
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- 關(guān)鍵字： 軟件開(kāi)發(fā) 白盒測(cè)試 代碼審查
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白盒測(cè)試介紹
白盒測(cè)試(White-box Testing，又稱(chēng)邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試,結(jié)構(gòu)測(cè)試)是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)打開(kāi)的盒子。利用白盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)，需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過(guò)程，不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能。白盒測(cè)試又稱(chēng)為結(jié)構(gòu)測(cè)試和邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試。
白盒測(cè)試法的覆蓋標(biāo)準(zhǔn)有邏輯覆蓋、循環(huán)覆蓋和基本路徑測(cè)試。其中邏輯覆蓋包括語(yǔ)句覆蓋、判定覆蓋、條件覆蓋、判定/條件覆蓋、條件組合覆蓋和路徑覆蓋。 [ 查看詳細(xì) ]
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