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          深紫外激光技術(shù) 文章 最新資訊

          應(yīng)用材料公司推出Applied DFinder檢測系統(tǒng)

          •   應(yīng)用材料公司推出Applied DFinder檢測系統(tǒng),用于在22納米及更小技術(shù)節(jié)點(diǎn)的存儲和邏輯芯片上檢測極具挑戰(zhàn)性的互連層。作為一項突破性的技術(shù),該系統(tǒng)是首款采用深紫外(DUV)激光技術(shù)的暗場檢測工具,使芯片制造商具有前所未有的能力,在生產(chǎn)環(huán)境中檢測出圖形化晶圓上極小的顆粒缺陷,從而提高產(chǎn)品良率。DFinder系統(tǒng)專門針對互連層的檢測而設(shè)計,因此總擁有成本比其它暗場檢測系統(tǒng)最多可降低40%。這對芯片制造而言是一項非常關(guān)鍵的優(yōu)勢,因為在這個過程中可能會涉及50多個獨(dú)立的檢測步驟。
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          深紫外激光技術(shù)介紹

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