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NI發(fā)布2009年測試與測量發(fā)展趨勢
- 軟件定義的儀器系統(tǒng)將是本年度最重要的儀器發(fā)展趨勢，用以提升性能和降低成本 2009年1月，如今全球經(jīng)濟現(xiàn)狀對于預算成本有著嚴格的限制，測試工程師現(xiàn)今面臨的挑戰(zhàn)將是如何尋找更高效的測試方法。美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI），作為全球測試測量行業(yè)的領導者，指出2009年將極大改進測試測量系統(tǒng)效率的三大趨勢——軟件定義的儀器系統(tǒng)，并行處理技術以及無線和半導體測試新方法。它們將幫助工程師在減少測試總成本的條件下，開發(fā)更快、更靈活的自動化測
- 關鍵字： NI 測試測量
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電子測試測量儀器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器：光時域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試
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