相控陣天線有源駐波測試

• 天線在實際工作時，除了輻射信號，由于自身的原因會在其端口存在駐波，而相控陣天線的天線單元間還存在互耦效應(yīng)，使得天線的駐波增大，會對發(fā)射機功放組件造成一定損壞。因此在設(shè)計相控陣天線時，必須考慮此駐波及其影響。針對相控陣天線有源駐波測試的需求，提出利用多通道相參信號源模擬相控陣實際掃描狀態(tài)，從而進行相控陣輻射狀態(tài)下的有源駐波測試。1  引言相控陣天線處于工作狀態(tài)（發(fā)射或者接收）時，天線單元之間存在一定的電磁能量耦合，即互耦效應(yīng)。互耦效應(yīng)的存在改變了天線單元的阻抗特性，影響了陣列天線的波束形狀和增益。
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