國內(nèi)首臺(tái)40nm明場納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備發(fā)布

• 近日，天準(zhǔn)科技參股的蘇州矽行半導(dǎo)體技術(shù)有限公司（以下簡稱“矽行半導(dǎo)體”）宣布，公司面向40nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)的明場納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備TB1500已完成廠內(nèi)驗(yàn)證，標(biāo)志著國產(chǎn)半導(dǎo)體高端檢測(cè)設(shè)備實(shí)現(xiàn)了新的突破。這是繼去年8月，天準(zhǔn)科技正式交付面向12英寸晶圓65~90nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)的寬波段明場缺陷檢測(cè)設(shè)備TB1000不到一年后，再次取得的階段性新進(jìn)展。資料顯示，矽行半導(dǎo)體成立于2021年11月，專注于高端晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備及零部件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。本次產(chǎn)品TB1500是矽行半導(dǎo)體最新的研發(fā)成果，核心關(guān)鍵部件全部實(shí)
• 關(guān)鍵字： 40nm  明場納米圖形  晶圓缺陷檢測(cè)