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          斷言 文章 最新資訊

          用于改進(jìn)設(shè)計(jì)驗(yàn)證的斷言 IP (AIP)

          • 多年來(lái),設(shè)計(jì)重用方法為半導(dǎo)體 IP (SIP) 創(chuàng)造了一個(gè)市場(chǎng),現(xiàn)在有了正式的技術(shù),就需要斷言 IP (AIP)。其中,每個(gè)AIP都是硬件設(shè)計(jì)中用于檢測(cè)被測(cè)設(shè)計(jì)(DUT)中的協(xié)議和功能違規(guī)的可重用和可配置驗(yàn)證組件。LUBIS EDA 專注于正式服務(wù)和工具,因此我收到了有關(guān)他們開(kāi)發(fā)這些 AIP 和檢測(cè)高風(fēng)險(xiǎn) IP 中極端情況錯(cuò)誤的方法的最新信息。在詳細(xì)介紹 LUBIS EDA 使用的方法之前,讓我們先回顧一下基于仿真的驗(yàn)證與形式驗(yàn)證有何不同。通過(guò)仿真,工程師正在編寫(xiě)激勵(lì)來(lái)覆蓋設(shè)計(jì)的所有已知狀態(tài),希望覆蓋范圍
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          斷言介紹

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