數(shù)字校準(zhǔn) 文章 最新資訊
一種應(yīng)用于折疊/插值型ADC的高速寬帶采樣保持電路
- 本文提出了一種基于0.18 μm BiCMOS工藝設(shè)計的開環(huán)采樣保持電路，采用了增益和失調(diào)誤差數(shù)字校準(zhǔn)算法提升動態(tài)性能，應(yīng)用于高速折疊/插值型ADC中。電路仿真和測試結(jié)果表明，在2GSPS采樣率下，折疊/插值型ADC的DNL≤±0.3LSB、INL≤±0.3LSB，有效位達(dá)到7.32位。
- 關(guān)鍵字： 開環(huán)采樣保持電路 數(shù)字校準(zhǔn) 折疊插值 202205
流水線ADC設(shè)計中的數(shù)字?；此惴ㄅc實現(xiàn)
- 摘要：數(shù)字校準(zhǔn)是高速高精度流水線ADC設(shè)計中的關(guān)鍵技術(shù)之一。文章提出了一種可通過校準(zhǔn)控制生成測試信號，自動計算權(quán)重來對流水線ADC中電容失配進(jìn)行誤差補(bǔ)償?shù)募夹g(shù)。該技術(shù)能有效地減小增益有限、電荷注入等非理想因
- 關(guān)鍵字： 流水線ADC 數(shù)字校準(zhǔn) 非線性誤差
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數(shù)字校準(zhǔn)介紹
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