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集成電路測試機的挑戰(zhàn)與趨勢
- 迎?九?（《電子產品世界》編輯，北京?100036） 摘?要：介紹了集成電路測試機（ATE）面臨的挑戰(zhàn)與解決方案。 關鍵詞：集成電路；測試；微調；trim 集成電路自動測試設備（ATE，測試機）是檢測芯片功能和性能的專用設備，據(jù)SEMI預測，2019年中國測試機占據(jù)后道檢測設備62.8%的份額 [1] 。ATE測試的趨勢是什么？電子產品世界記者訪問了泰瑞達業(yè)務戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士。 1 芯片測試的新挑戰(zhàn) 當今的半導體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
- 關鍵字： 202001 集成電路 測試 微調 trim
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