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	失效分析
          

          
	
          
    	
          
    	  	
          
              	
          
                	
          失效分析 文章
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          某型紅外探測器預(yù)處理電路失效分析
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 摘要：作為紅外探測系統(tǒng)中的基礎(chǔ)硬件和關(guān)鍵部件，預(yù)處理電路的性能直接影響紅外探測系統(tǒng)成像質(zhì)量。針對某型紅外探測器預(yù)處理電路的故障現(xiàn)象，建立故障樹逐步進(jìn)行失效分析，定位異常處并通過測試驗(yàn)證，進(jìn)而提出糾正措施避免類似異常的發(fā)生。經(jīng)過本次失效分析，找到了偶然事件產(chǎn)生的根源，通過采取糾正措施，降低了偶然失效發(fā)生的概率，對產(chǎn)品可靠性的提高具有顯著實(shí)用價值。圖1 紅外探測系統(tǒng)功能框圖預(yù)處理電路是紅外探測系統(tǒng)模擬信號與數(shù)字信號的橋梁，其采集性能、圖像處理能力及輸出信號直接影響紅外探測系統(tǒng)成像質(zhì)量，是整體系統(tǒng)的關(guān)鍵部件[2
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          • 關(guān)鍵字：
                        202106  紅外探測器  預(yù)處理電路  失效分析  可靠性                          
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          一種基于ADS仿真的L波段固態(tài)功放失效分析
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　董?亮，薛?新（中國電子科技集團(tuán)公司第三十六研究所，浙江?嘉興?314033）　　摘?要：本文介紹了一種利用ADS軟件建模進(jìn)行功率管失效分析的方法。首先通過ADS對PCB板進(jìn)行模型提取，然后版圖仿真，再導(dǎo)入原理圖中進(jìn)行版圖原理圖聯(lián)合仿真，仿真結(jié)果與實(shí)測數(shù)據(jù)較吻合。最后根據(jù)實(shí)際現(xiàn)象修改板材模型，對不同油脂參數(shù)進(jìn)行仿真，仿真結(jié)果與實(shí)際故障現(xiàn)象具備較高的吻合度。該方法可以對功放故障進(jìn)行定量分析，能更準(zhǔn)確地進(jìn)行故障定位?！　￡P(guān)鍵詞：ADS；失效分析；功率放大器　　0 引言　　固態(tài)功率放大器因?yàn)槠湫矢?、體積小
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          • 關(guān)鍵字：
                        201910  ADS  失效分析  功率放大器                          
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          廣電計量:失效分析推動元器件國產(chǎn)化進(jìn)程
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年才開始普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。廣電計量致力于針對產(chǎn)品設(shè)計、研制、使用、維修/維護(hù)全壽命周期中出現(xiàn)的失效產(chǎn)品,為客戶提供高效快速的原材料、電子元器件、PCB、PCBA失效分析/故障根因分析和改進(jìn)提升技術(shù)服務(wù)。2019年9月4日,由工信部、上海市政府指導(dǎo),中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會、中國電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展研究院主辦的第二屆
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          • 關(guān)鍵字：
                        失效分析，元器件國產(chǎn)化                          
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          怎樣才是最有效的IC故障診斷和失效分析
          
                                                            
            
                    	
          •  摘要：對一個復(fù)雜的設(shè)備進(jìn)行故障診斷的時候，知識儲備是最重要的。我們想要的并且需要去了解相關(guān)的一些問題。它包括正確的IC版本號，在哪里可以找到有關(guān)的參考資料，誰真正了解客戶端發(fā)生了什么。幫助客戶是我們最主
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          • 關(guān)鍵字：
                        IC    故障診斷    失效分析    DC-DC                          
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          使用時間可控發(fā)射方法來進(jìn)行模擬電路的失效分析
          
                                                            
            
                    	
          • 時間可控發(fā)射方法（TRE）是一種常用的非入侵式波形測量方法，它能從芯片的背面探測芯片內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的時序波形。完美 ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        可控發(fā)射  模擬電路  失效分析                          
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          可靠性失效分析常見思路（二）
          
                                                            
            
                    	
          • 2.3 失效樹分析法　　失效樹分析法是一種邏輯分析方法。邏輯分析法包括事件樹分析法(簡稱ETA)、管理失誤 ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        可靠性  失效分析                          
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          可靠性失效分析常見思路（一）
          
                                                            
            
                    	
          • 失效分析在生產(chǎn)建設(shè)中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結(jié)論要正確無誤,改進(jìn)措施要切實(shí)可行?！　?...
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          • 關(guān)鍵字：
                        可靠性  失效分析                          
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          IC故障診斷及失效分析:發(fā)現(xiàn)事實(shí)避免臆測
          
                                                            
            
                    	
          • 摘要：對一個復(fù)雜的設(shè)備進(jìn)行故障診斷的時候，知識儲備是最重要的。我們想要的并且需要去了解相關(guān)的一些問題。它 ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        IC故障  失效分析                          
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          線路板的失效分析
          
                                                            
            
                    	
          • 你是否長時間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè) ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        線路板  失效分析                          
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          對使用銅絲鍵合的功率MOSFET進(jìn)行失效分析
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 摘要：由于銅絲鍵合可以替代金鍵合，價格又便宜，正在被越來越多地應(yīng)用到微電子元器件當(dāng)中。目前的情況表明銅是可行的替代品，但是證明其可靠性還需要采用針對銅絲鍵合工藝的新型失效分析(FA)技術(shù)。
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          • 關(guān)鍵字：
                        銅絲鍵合  MOSFET  金鍵合  失效分析  金屬層  201308                          
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          某光電裝備電機(jī)驅(qū)動電路失效分析
          
                                                            
            
                    	
          • 摘要：驅(qū)動電路的性能很大程度上影響整個系統(tǒng)的工作性能。驅(qū)動電路的設(shè)計中主要考慮功能和性能等方面的因素。本文首先介紹了某平臺的電機(jī)驅(qū)動電路，然后就實(shí)際工作及實(shí)驗(yàn)中驅(qū)動電路出現(xiàn)的失效信息作以分析，對問題進(jìn)
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          • 關(guān)鍵字：
                        驅(qū)動電路  失效分析  H橋  PWM                          
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          抗輻射晶體管3DK9DRH的貯存失效分析
          
                                                            
            
                    	
          • 為了找到并糾正抗輻射晶體管3DK9DRH貯存失效的原因，利用外部檢查、電性能測試、檢漏、內(nèi)部水汽檢測、開封檢查等試驗(yàn)完成了對晶體管3DK9DRH的一種貯存失效分析。結(jié)果表明晶體管存在工藝問題，內(nèi)部未進(jìn)行水汽控制，加上內(nèi)部硫元素過高，長期貯存后內(nèi)部發(fā)生了氧化腐蝕反應(yīng)，從而導(dǎo)致晶體管功能失效。對此建議廠家對晶體管的生產(chǎn)工藝進(jìn)行檢查，對水汽和污染物如硫元素等加以控制，及時剔除有缺陷的晶體管。
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          • 關(guān)鍵字：
                        3DK9DRH  輻射  晶體管  失效分析                            
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          熱阻測試原理與失效分析
          
                                                            
            
                    	
          • 文中通過熱阻的測試原理分析和實(shí)際案例，分別從熱阻測試條件、控制限、上芯空洞、傾斜、芯片內(nèi)阻等幾個方面，全面地闡述對熱阻測試結(jié)果的影響，并通過數(shù)據(jù)統(tǒng)計形成圖表，較為直觀明了，總結(jié)出熱阻測試失效的各種可能原因。
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          • 關(guān)鍵字：
                        熱阻測試  原理  失效分析                            
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