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          器件測試 文章 最新資訊

          最新吉時利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測試挑戰(zhàn)

          • Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀模塊為擁有高測試連接電容、不穩(wěn)定低電流測量的應用提供了理想的解決方案中國北京2019年11月13日 – 泰克科技公司日前宣布,為Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊,即使在由于長電纜和復雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時,其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著這一挑戰(zhàn),如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下,許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會增加SMU輸出端的電容。
          • 關鍵字: 泰克科技  Keithley  器件測試  
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          器件測試介紹

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