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          可控發(fā)射 文章 最新資訊

          使用時(shí)間可控發(fā)射方法來(lái)進(jìn)行模擬電路的失效分析

          • 時(shí)間可控發(fā)射方法(TRE)是一種常用的非入侵式波形測(cè)量方法,它能從芯片的背面探測(cè)芯片內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的時(shí)序波形。完美 ...
          • 關(guān)鍵字: 可控發(fā)射  模擬電路  失效分析  
          共1條 1/1 1

          可控發(fā)射介紹

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