半導(dǎo)體高速檢測裝置 文章 最新資訊
日本電產(chǎn)理德推出半導(dǎo)體高速檢測裝置“NATS-1000”
- 日本電產(chǎn)理德株式會(huì)社推出了全自動(dòng)在線半導(dǎo)體檢測裝置“NATS-1000”，用于汽車級(jí)IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor :絕緣柵雙極晶體管）/SiC（Silicon Carbide：碳化硅）模塊的功能測試。 1. 開發(fā)的背景及特征近年來，對(duì)車用功率器件（半導(dǎo)體元件）的需求迅速增長。日本電產(chǎn)理德的“NATS-1000”最初是在母公司日本電產(chǎn)株式會(huì)社（以下簡稱“日本電產(chǎn)”）的集團(tuán)公司進(jìn)行自制化，從重視可追溯性的汽車廠商的角度出發(fā)，為了優(yōu)化成本、品
- 關(guān)鍵字： 日本電產(chǎn)理德 半導(dǎo)體高速檢測裝置
| 共1條 1/1 1 |
半導(dǎo)體高速檢測裝置介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條半導(dǎo)體高速檢測裝置!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)半導(dǎo)體高速檢測裝置的理解，并與今后在此搜索半導(dǎo)體高速檢測裝置的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)半導(dǎo)體高速檢測裝置的理解，并與今后在此搜索半導(dǎo)體高速檢測裝置的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473