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          半導體測試設備 文章 最新資訊

          東芝推出高速導通小型光繼電器,可縮短半導體測試設備的測試時間

          • 芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)近日宣布,最新推出采用S-VSON4T[1]封裝的光繼電器——“TLP3414S”與“TLP3431S”,具有比東芝現有產品更快的導通時間[2]。TLP3414S與TLP3431S的斷態(tài)輸出端電壓和通態(tài)電流額定值分別為40 V/250 mA和20 V/450 mA。該產品于近日開始支持批量出貨。新型光繼電器通過提高輸入側紅外LED的光輸出并優(yōu)化光電探測器(光電二極管陣列)的設計,可實現高效的光耦合,將導通時間最大值縮短至150 μs。TLP3414S的導通時間比東芝
          • 關鍵字: 東芝  光繼電器  半導體測試設備  

          東芝推出適用于半導體測試設備中高頻信號開關的小型光繼電器

          • 東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)近日宣布,推出采用小巧纖薄的WSON4封裝的光繼電器“TLP3475W”。它可以降低高頻信號中的插入損耗,并抑制功率衰減[1],適用于使用大量繼電器且需要實現高速信號傳輸的半導體測試設備的引腳電子器件。該產品于近日開始支持批量出貨。TLP3475W采用了東芝經過優(yōu)化的封裝設計,這有助于降低新型光繼電器的寄生電容和電感。降低插入損耗的同時還可將高頻信號的傳輸特性提高到20GHz(典型值)[2]——與東芝現有產品TLP3475S相比,插入損耗降低了約1/3[2]。TL
          • 關鍵字: 東芝  半導體測試設備  高頻信號開關  光繼電器  

          研華模塊化電腦與登臨GPU加速卡完成產品互認證

          • 導讀:研華基于Intel第12代酷睿(Alder Lake-S)平臺的模塊化電腦產品SOM-C350與登臨創(chuàng)新通用GPU系列加速卡Goldwasser(高凜)完成適配和互認證。相關產品在系統(tǒng)測試及驗證過程中,表現出優(yōu)越的系統(tǒng)穩(wěn)定性且各項性能特征均滿足用戶的關鍵應用需求。 隨著大數據和物聯(lián)網的發(fā)展,AI在智慧城市、智慧醫(yī)療及智慧工廠等各個領域的應用越來越普遍,AI技術已經成為促進產業(yè)數字化升級的關鍵。應市場的發(fā)展和需求,深耕于物聯(lián)網多年的研華與國內GPU知名企業(yè)登臨開展合作,積極發(fā)揮各自優(yōu)勢,為客
          • 關鍵字: 研華  研華嵌入式  模塊化電腦  COM-HPC  登臨  GPU加速卡  AI  高端醫(yī)療  高端自動化設備  半導體測試設備  視頻影像  無人駕駛  

          東芝小型光繼電器: 高速導通助力縮短半導體測試設備的測試時間

          • 中國上海,2023年5月25日——東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)今日宣布,推出采用S-VSON4T封裝的光繼電器——“TLP3476S”,其導通時間與東芝當前產品TLP3475S相比縮短了一半。該產品于今日開始支持批量出貨。與東芝當前的產品TLP3475S相比,TLP3476S運行速度更快、結構更緊湊。該產品通過提高紅外LED的光輸出并優(yōu)化光電探測器件(光電二極管陣列)的設計,可實現高效的光耦合,也提高了運行速度,將導通時間最大值縮短至0.25ms,時間為TLP3475S的一半。此外,由于采用
          • 關鍵字: 東芝  光繼電器  高速導通  半導體測試設備  
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          半導體測試設備介紹

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