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          半導體失效 文章 最新資訊

          淺談因電遷移引發(fā)的半導體失效

          • 前言半導體產(chǎn)品老化是一個自然現(xiàn)象,在電子應用中,基于環(huán)境、自然等因素,半導體在經(jīng)過一段時間連續(xù)工作之后,其功能會逐漸喪失,這被稱為功能失效。半導體功能失效主要包括:腐蝕、載流子注入、電遷移等。其中,電遷移引發(fā)的失效機理最為突出。技術(shù)型授權(quán)代理商Excelpoint世健的工程師Wolfe Yu在此對這一現(xiàn)象進行了分析。?1、?背景從20世紀初期第一個電子管誕生以來,電子產(chǎn)品與人類的聯(lián)系越來越緊密,特別是進入21世紀以來,隨著集成電路的飛速發(fā)展,人們對電子產(chǎn)品的需求也變得愈加豐富。隨著電子
          • 關(guān)鍵字: 電遷移  半導體失效  世健  Microchip  Flash FPGA  
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          半導體失效介紹

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