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          Date:April 27th,2006  Debao Hotel

           
          Hosts:
          China National Electronics Import and Export Corporation
            Electronic Engineering & Product World
          Co-Organizers: EDAW-NEC
          Organizers:
          Electronic Engineering & Product World
          China Electronics International Exhibition & Advertising Co.Ltd.
          Supporters:
          General Equipment Headquarters,PLA
          Commission of Science Technology and Industry for National Defense
          Ministry of Information Industry,PRC
          China Electronics Corporation
          Media Support: Instrument Meter News

           

           

          Sciences and technologies cannot evolve without testing and measurement techniques, which are the essential guarantees for the quality of products. With systems and products under test increasingly enhanced—getting more and more rapid, smaller and smaller in volume, and entering more and more application area, people have imposed higher and higher demands and requirements on testing and measuring technologies, which inspired the continuous emergence of new theories, techniques and methods for testing & measuring technology and instrumentation.

          Topics

          Real-time spectral measurement, applications of virtual instruments in testing systems, EMC/EMI measurement, RF and microwave measurement, automobile electronics and testing, embedded testing, high-speed serial data testing, automatic test equipment, testing of telecom networks, advanced IC testing technologies, complexly modulated signal measurement, testing of avionics/GPS, setup of PXI and data acquisition, the trends and direction of testing and measuring technologies.

          Schedule

          時 間
          演講題目
          演 講 人
          09:00-09:30
          報道,收取名片或調(diào)查表準(zhǔn)備下午抽獎活動
          09:30-09:35
          開幕致詞
          EEPW主編 王瑩
          09:35-10:20
          黑鳥及下一代測試總線LXI
          Aglient 航空航天及國防業(yè)務(wù)市場項目經(jīng)理 邢國元
          10:25-11:10

          雷達(dá)信號測試方案及儀器應(yīng)用

          羅德與施瓦茨中國有限公司
          產(chǎn)品經(jīng)理 陳峰

          11:15-12:00

          共同構(gòu)建
          下一代國防設(shè)計系統(tǒng)的測試平臺

          Tektronix設(shè)計與制造測試儀器產(chǎn)品部航天航空及國防應(yīng)用銷售經(jīng)理 周文昊

          12:00-13:00

          自助午餐

          13:00-13:45

          航天和軍工測試技術(shù)的挑戰(zhàn)

          北京航天測控技術(shù)公司
          總經(jīng)理 奚全生

          13:50-14:35

          NI產(chǎn)品在現(xiàn)代航空航天和軍工
          測試應(yīng)用上的解決方案

          美國國家儀器公司
          中國區(qū)域銷售經(jīng)理 高向東

          14:40-15:25

          迎接測試測量世界新挑戰(zhàn)

          北京普源精電科技有限公司
          國內(nèi)銷售部副總經(jīng)理 李藝

          15:30-15:40
          國內(nèi)測試測量行業(yè)的現(xiàn)狀
          中國電子儀器行業(yè)協(xié)會秘書長徐春齡

          15:45-16:15

          測試測量行業(yè)的“十一五”規(guī)劃

          國家“十一五” 規(guī)劃電子儀器組組長
          中國工程院院士 張鐘華

          16:20-16:30 抽獎(三臺精美MP3播放器),活動結(jié)束

          注:此活動日程為暫定,以會議當(dāng)日公布的為準(zhǔn)

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          Contact

          北京

          聯(lián)系人:王煒

          《電子產(chǎn)品世界》雜志社會展部

          電話:8610-68580742

          傳真:8610-68580564

          電郵:jackwang@edw.com.cn

           

          HONG KONG

          Jorge Moo Lew

          Alegra International Limited

          Tel: 852-23668005

          Fax: 852-23668905

          Email: eepw@alegra.com.hk

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          本次研討會免費參加,參會人員必須提前注冊,可選擇網(wǎng)上注冊電話注冊;若沒有提前注冊不能領(lǐng)取會議資料也不能參加抽獎活動。

          聽眾報名請聯(lián)系:

          電子產(chǎn)品世界會展部 梁超
          電話:010-58882867
          傳真:010-68580564
          E-mail: liangchao@edw.com.cn

          廠商報名請聯(lián)系:

          電子產(chǎn)品世界會展部 王煒
          電話:010-68580742
          傳真:010-68580564
          E-mail: jackwang@edw.com.cn

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