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          本次研討會,我們將從測試角度看半導體的整條產業(yè)鏈,從功率半導體器件評估與可靠性測試再到模擬芯片標定的測試誤區(qū),同時,也將和您分享基于第三代功率半導體的電源設計及閣開發(fā)全流程測試方案,并進行演示。

          泰克誠邀"芯"朋友親臨現場,現場感受泰克產品帶來的高效測試。

          會議日程

          時間 主題和內容簡介
          13:30-14:00 簽到
          14:00-14:15

          開場

          14:15-15:00

          功率半導體器件動態(tài)測試與可靠性測試——測試原理,方法和設備

          演講嘉賓:王芳芳——泰克技術專家

          15:00-15:20 茶歇
          15:20-16:05

          模擬芯片標定的測試誤區(qū)

          演講嘉賓:葉昊生——泰克技術專家

          16:05-16:50

          基于第三代功率半導體的電源設計及產品開發(fā)全流程測試方案

          演講嘉賓:黃正峰——泰克技術專家

          16:50-17:00 抽獎
           
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