Synopsys宣布珠海炬力已采用Synopsys DFT MAX掃描壓縮自動化解決方案實現其0.13微米系統(tǒng)級芯片(SoC)設計，使測試設備相關成本降低了90％。DFT MAX通過片上掃描數據壓縮，可顯著減少高質量制造測試所需的測試時間和測試數據量。　

　　珠海炬力首席技術官李邵川表示：“作為便攜式多媒體播放器（PMP）SoC的領先供應商，我們的產品設計廣泛應用于遍布世界各地的便攜式消費電子產品中。因此，我們的設計團隊需要易于使用而成熟的壓縮解決方案，可以降低我們下一代PMP SoC的測試成本。DFT MAX可與Synopsys Galaxy設計平臺流程實現緊密集成，使得我們迅速將之應用于百萬門級的設計當中。只需另加500個門，DFT MAX便可實現90％以上的壓縮率。正是基于以上考慮，我們最終決定在未來的SoC設計中采用DFT MAX?！?

　　標準的 stuck-at 測試樣本在檢測許多時間敏感性缺陷時不夠有效，因此半導體公司正在采用轉移延遲測試來發(fā)現 0.13 微米及以下工藝的缺陷。隨著設計的復雜程度的增加，利用兩種測試方法使測試一個器件所需的測試圖形的總量劇增。樣本數   
量和每個樣本測試數據量的膨脹，增加了每個器件所需的測試時間，形成了生產測試瓶頸。DFT MAX可自動執(zhí)行片上壓縮，不僅可顯著降低測試數據量和測試應用時間，同時也可將對硅片面積影響降至最低。

　　使用DFT MAX無需測試壓縮技術領域的專業(yè)技能。其僅適用于門唯一的適應性掃描架構是現有解決方案中最面積有效的方案。適應性掃描架構不使用復雜的順序狀態(tài)機進行壓縮/解壓縮，可以分散整個設計的測試邏輯，從而緩解布線擁塞并降低硅片面積成本。DFT MAX產品與Synopsys Galaxy Design Platform可以實現無縫連接，對可預測結果的時間影響微乎其微。