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          通用微處理器等效老化試驗(yàn)方法分析與研究

          作者: 時(shí)間:2008-11-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            

            

            

            結(jié)論

            通過(guò)對(duì)通用等效方法的研究,可以得出如下結(jié)論:1)等效是評(píng)估和比較不同工藝、不同設(shè)計(jì)的功能全兼容集成電路質(zhì)量和可靠性水平的重要手段;2)“歸一化老化電流”α是能夠表征等效老化應(yīng)力強(qiáng)度的特征參數(shù);3)通用CPU 可以采用本文給出的等效方案實(shí)現(xiàn)質(zhì)量和可靠性水平的有效評(píng)估和比較。


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          評(píng)論


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