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          IGBT模塊的密勒電容影響

          作者: 時(shí)間:2014-02-16 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          需要首先了解IGBT或的寄生電容參數(shù):

          IGBT寄生電容是其芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)固有的特性,芯片結(jié)構(gòu)及簡單的原理圖如下圖所示。輸入電容Cies及反饋電容Cres是衡量柵極驅(qū)動電路的根本要素,輸出電容Coss限制開關(guān)轉(zhuǎn)換過程的dv/dt,Coss造成的損耗一般可以被忽略。

          其中:Cies = CGE + CGC:輸入電容(輸出短路)Coss = CGC + CEC:輸出電容(輸入短路)Cres = CGC:反饋電容(米勒電容)動態(tài)電容隨著集電極與發(fā)射極電壓的增加而減小,如下圖所示。

          可以看出在VCE電壓較小時(shí)有一個(gè)比較大的值,此時(shí)VCE的瞬變會通過此電容對IGBT柵極有明顯的影響,尤其在半橋電路中有可能造成寄生導(dǎo)通,需要多加注意,實(shí)際選型時(shí)往往CCE對Cies的比值越小越好。
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