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          數(shù)字電路中△I噪聲的危害

          作者: 時(shí)間:2010-12-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            1.3 電源電壓波動(dòng)與時(shí)鐘抖動(dòng)

            時(shí)鐘是數(shù)字系統(tǒng)的核心之一。時(shí)鐘的產(chǎn)生與分布對(duì)系統(tǒng)的性能和功耗都有顯著影響。時(shí)鐘偏差(clock skew)和時(shí)鐘抖動(dòng)(clock jitter)[6]是主要問題,它們會(huì)導(dǎo)致數(shù)字系統(tǒng)的性能下降或工作出錯(cuò)。然而,電源電壓波動(dòng)是引起時(shí)鐘分布網(wǎng)絡(luò)中抖動(dòng)的主要原因[7]。

            從上述分析可見,△I噪聲會(huì)引起電源電壓波動(dòng)。電源電壓波動(dòng)造成的不良后果是多方面的、是嚴(yán)重的??紤]到的規(guī)模越來越大及△I噪聲的疊加性,這一問題會(huì)變得更加嚴(yán)重。

            一個(gè)數(shù)字系統(tǒng)要求對(duì)各個(gè)門電路提供穩(wěn)定的電源電壓。為了確保正常工作,電源電壓的波動(dòng)應(yīng)控制在幾百毫伏以內(nèi)。所以,電源電流尖峰脈沖問題,已成為現(xiàn)代數(shù)字設(shè)計(jì)中必須解決的關(guān)鍵問題之一。

            2電路內(nèi)部噪聲

            在模擬電路中,外界噪聲通常是關(guān)注的重點(diǎn)。而對(duì)于,則內(nèi)部噪聲最值得關(guān)注。一般來說,產(chǎn)生內(nèi)部噪聲源的原因包括地線噪聲、電源線噪聲、傳輸線(transimission line)反射、串?dāng)_(crosstalk)等,其中最重要的噪聲源是地線噪聲和電源線噪聲。

            2.1 地線噪聲

            由△I噪聲產(chǎn)生過程的分析可知,負(fù)載電容CL在放電時(shí)引起電流尖峰脈沖,該電流尖峰脈沖流經(jīng)接地線。由于接地線存在寄生電感,所以電流尖峰脈沖流經(jīng)接地線時(shí),便產(chǎn)生噪聲電壓,即地線噪聲(接地線還有寄生電阻,但相對(duì)于寄生電感引起的噪聲而言,其引起的噪聲要小得多,可以不予考慮)。

            實(shí)際上,由兩個(gè)晶體管同時(shí)導(dǎo)通引起的電流尖峰脈沖也流經(jīng)接地線,但由于相對(duì)于負(fù)載電容CL放電引起的電流尖峰脈沖而言,該電流尖峰脈沖要弱得多,所以在分析電流尖峰脈沖在接地線上引起的噪聲時(shí),該電流可以不予考慮。

            為方便起見,在具體分析地線噪聲的產(chǎn)生與危害時(shí),可將邏輯電路等效為圖3所示的形式。

            

          邏輯電路等效

            當(dāng)開關(guān)2 接通時(shí),負(fù)載電容CL對(duì)地放電。隨著上電壓的下降,其存儲(chǔ)的電荷流向地,在接地回路上形成一個(gè)電流尖峰脈沖,記作Idischarge。

            隨著放電電流建立然后衰減,這一電流變化通過接地引腳的電感起作用,在器件外的系統(tǒng)地平面與封裝內(nèi)的地之間感應(yīng)產(chǎn)生了一個(gè)電壓VGND,其大小為:

            

          公式

            與滿幅值的輸出電壓相比,VGND通常較小。它不會(huì)嚴(yán)重影響發(fā)送信號(hào),但會(huì)嚴(yán)重干擾負(fù)載,影響對(duì)信號(hào)的接收。因?yàn)閷?duì)接收電路而言,VGND脈沖就像是直接疊加在輸入信號(hào)上的噪聲。

            以上是TTL電路的情況。雖然CMOS電路的拓?fù)?topology)結(jié)構(gòu)不同,但噪聲脈沖的概念是一樣的。

            如果同一芯片上的N個(gè)容性負(fù)載相應(yīng)的N路輸出同時(shí)轉(zhuǎn)換,則會(huì)得到N倍的地電流,于是噪聲脈沖的增大也接近N倍。



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