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          應(yīng)用于負(fù)電源的電平位移電路及器件設(shè)計

          作者: 時間:2011-08-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

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          通過以上分析,發(fā)現(xiàn)提高nLDMOS的開態(tài)擊穿電壓最有效的方法是縮短柵極場板和提高體區(qū)注入劑量。這二種方法的實質(zhì)提高導(dǎo)通阻抗或降低電流能力。但是對于普通的nLDMOS,電流能力本身就比pLDMOS有優(yōu)勢。當(dāng)到負(fù)中時,厚柵氧高柵源電壓使得nLDMOS的電流能力更加突出,但是同時也導(dǎo)致了開態(tài)耐壓的降低。所以提高nLDMOS開態(tài)擊穿電壓就必須降低其電流能力。如圖6所示,在nLD-MOS正常工作時,源端的電壓為-100V,此時飽和電流相差0.05mA/μm。

          b.JPG


          在縮短柵極場板到1μm,提高體區(qū)注入劑量到5e14 cm-2的情況下,在得到nLDMOS的閾值電壓為24V,關(guān)態(tài)擊穿電壓215V,開態(tài)擊穿電壓140V,能夠滿足-100V電壓的要求。

          3 結(jié)束語
          本文一種應(yīng)用于8~-100V。通過在常規(guī)正的基礎(chǔ)上改變低壓控制方式來實現(xiàn)從0~8V低壓邏輯輸入到8~-100V高壓驅(qū)動輸出的轉(zhuǎn)換?;诖穗娐方Y(jié)構(gòu)了滿足電路應(yīng)用需求的高壓。并對高壓LDMOS進(jìn)行了優(yōu)化,尤其是高壓nLDMOS的開態(tài)耐壓。得到高壓nLDMOS的關(guān)態(tài)擊穿電壓215V,開態(tài)擊穿電壓140V,閾值電壓24V;高壓pLDMOS的關(guān)態(tài)擊穿電壓200V,開態(tài)擊穿電壓160V,閾值電壓-1V。

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