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          數(shù)字機(jī)頂盒電磁抗干擾的設(shè)計(jì)技巧

          作者: 時(shí)間:2012-04-25 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          3.2.4 對(duì)的改進(jìn)
          (1)PCB布線的改進(jìn)。將射頻輸入線與敷地之間的間隔加大,至少有1 mm的間隔,這樣可以減少射頻先與地線之間的耦合,因?yàn)榈鼐€與屏蔽殼是連在一起的,因此可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)線中的干擾信號(hào)向外輻射。具體要更改的地方如圖5所示。

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/160741.htm

          d.JPG


          (2)屏蔽殼的改進(jìn)。如前所述,最有效的方法是改進(jìn)屏蔽殼的密閉性,是輸入電纜的屏蔽層與機(jī)的屏蔽殼緊密相連,同時(shí)保證屏蔽殼是一個(gè)完整的密閉體。然而實(shí)際操作來說,對(duì)于硅高頻頭ON BOARD,鑒于成本的設(shè)計(jì),只能盡量接近理想的要求。
          具體的改法是把過孔式的屏蔽殼裝配的時(shí)候手工在焊接面把屏蔽殼露出腳位扭十字固定,并且在元件面的PCB上沿著屏蔽殼的正下面敷地并露銅,在過波峰焊的時(shí)候保證其腳位焊接良好。具體的更改如圖6所示。

          e.JPG


          經(jīng)過上述的更改,機(jī)順利地通過了測(cè)試,并且有5 dB的余量。

          4 結(jié)語
          EN55020用于判定產(chǎn)品的特性,主要是引入信噪比作為性能判定依據(jù)。此外,標(biāo)準(zhǔn)中的S1,S2,S4為內(nèi)部抗擾度的測(cè)試,即將干擾信號(hào)注入到產(chǎn)品的內(nèi)部來測(cè)試產(chǎn)品的各部分的能力,而S3,S5則是外部抗擾度,即測(cè)試產(chǎn)品對(duì)外部磁場(chǎng)和外部環(huán)境的能力。理解EN55020測(cè)試的關(guān)鍵就在于理解各項(xiàng)抗干擾測(cè)試的評(píng)定方法。另外,在測(cè)試中還要注意區(qū)分不同測(cè)試之間干擾信號(hào)的頻率范圍。
          通過以上電路設(shè)計(jì),DVBT機(jī)頂盒的抗干擾性能能滿足所銷往目的國的兼容標(biāo)準(zhǔn)要求。實(shí)際上,經(jīng)過以上抑制抗干擾設(shè)計(jì),提高DVBT機(jī)頂盒抗接受信號(hào)的靈敏度并保證信號(hào)輸出的質(zhì)量。實(shí)踐證明,在設(shè)計(jì)前期良好的策劃和經(jīng)驗(yàn)是保證產(chǎn)品設(shè)計(jì)快速成功的基礎(chǔ),避免重復(fù)的更改。對(duì)于電磁兼容的討論和規(guī)則運(yùn)用要不停的結(jié)合實(shí)際情況不斷的學(xué)習(xí)和探索下去。


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